基于光注入探测体系LID（Local Injection and Detection）单元的弯曲耦合器将光从接头的前端注入光纤，并在接续点后端检测它[1]，[2]。该方法不仅提供了可靠的接头损耗的测验，还同时允许在接续过程中监视实际的接头损耗。因而，在此基础上，有可能采用实时处理操控体系，来得到很小的接头损耗。这种体系叫做自动熔接时刻操控（AFC）体系，它在接头损耗很小时精确地停止熔接进程。
接头质量首要依赖于熔接过程中光纤加热情况。电极污染和电极磨损能引起电弧方位和温度的变化。光纤加热还依赖于光纤在电弧内的方位和大气压。熔接过程中首要的机理是已熔化的玻璃表面张力将会有自动定心效应。特别是熔接偏心光纤时，假如光纤加热和熔接时刻不好的话，自动定心效应会满足光纤外层的对准而满足不了纤芯之间的对准，然后引起纤芯之间的错位。
在上述体系的基础上，采用LID体系单元，它根据LID级别自动操控熔接时刻，这似乎是一种较好的解决办法。惋惜的是，有一些带有遮光涂料的涂层或涂层很厚的特殊光纤，不能在本地注入光或检测到光，因而不能采用LID来操控熔接时刻。
2、常用的纤芯对准体系
然而在熔接过程中，光纤被加热到1700～2000℃，这时，光纤发出热幅射和可见光，可见光的亮度足以饱满摄像机芯片，这样，导致了既不能在显示屏上看到光纤，也不能在图像中检测到光纤。因而，微处理器得不到用于计算得出光纤实际方位的反馈信号。然而找出光纤实际方位对现场进程操控是很必要的。图1给出了常用的纤芯对准熔接机在热熔电极开启时的典型的光纤图像。
用一种临时减少熔接中电弧电流的办法能够克服上述问题，这样能够进行图像剖析。可是电弧电流的减少会同时导致光纤受热程度的减少，这也会影响接续质量。除此之外，这种方法还不是实时操控的方法。
